無(wú)損檢測(cè)原理
?無(wú)損檢測(cè)有多種類(lèi)型，每種類(lèi)型都有不同的原理。下面，我們將解釋典型無(wú)損檢測(cè)的原理。
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圖1.射線(xiàn)檢測(cè)原理
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射線(xiàn)照相測(cè)試是一種通過(guò) X 射線(xiàn)或伽馬射線(xiàn)透射物體，并根據(jù)投影到膠片或圖像板上的圖像來(lái)確定內(nèi)部狀態(tài)的測(cè)試。
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輻射具有穿透物質(zhì)的特性，但穿透的難易程度取決于物體內(nèi)部的狀態(tài)。例如，有內(nèi)部劃痕的區(qū)域通常比健康區(qū)域更容易傳播輻射，因此它們?cè)谀z片上記錄的顏色會(huì)更暗。膠片的陰影是由構(gòu)成膠片的乳劑對(duì)輻射的反應(yīng)引起的。
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根據(jù)成像方法，放射線(xiàn)檢查分為多種方法。例如，存在使用圖像板而不是膠片來(lái)獲取圖像數(shù)據(jù)的方法。
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